报告 资讯
共检索到相关新闻200
报告直达
美建成世界上首个测量单个分子质量的装置
国国家科学基金会(NSF)报道,美国加州理工学院的研究小组完成了世界上首个可以测量单个分子质量的机械装置。该校的研究人员表示,这项新技术将能用于诊断疾病,帮助生
/channels/nmn/20121016/1303122.html 0K 2012-10-16
美建成世界上首个测量单个分子质量的装置
国国家科学基金会(NSF)报道,美国加州理工学院的研究小组完成了世界上首个可以测量单个分子质量的机械装置。该校的研究人员表示,这项新技术将能用于诊断疾病,帮助生
/channels/nmn/20121016/1303053.html 0K 2012-10-16
倡导智能化装修,迈测引领您进入未来“智慧”测量
测量,按这样的方式进行测量,有时与图纸不对,还要反复进行测量,这样子一个误差大,二个耗时,拖慢整个工作的进度,后来公司采购了一批迈测激光测距仪S3U,测量
/channels/bm/20121012/1300558.html 1K 2012-10-12
桂林广陆公司开发成功单臂坐标综合测量
格。该测量机既克服了目前绝大部分生产现场采用普通量具进行尺寸测量效率低、制作特定工装成本高的缺点,实现生产现场高效率和高精度检测,同时又兼顾了传统直观测量方式和
/channels/nmn/20120929/1291213.html 0K 2012-09-29
国内五金测量技术自主开发有待提高
测到简单测量再到精密测量测量技术的进步一定程度上保障着制造技术的进步。着名科学家钱学森先生也曾指出:信息技术包括测量技术、计算机技术和通讯技术。测量技术是关
/channels/nmn/20120925/1285235.html 1K 2012-09-25
Alicona公司研发生产全自动刀具测量仪IF-EdgeMaster
可少的刃口测量工具。它的测量性能包括:全自动半径测量、角度测量、弧度测量、粗糙度测量、倒棱测量、附加测量模块。IF-EdgeMaster主要用于测量数控刀片、
/channels/nmn/20120924/1283579.html 0K 2012-09-24
Alicona公司研发生产全自动刀具测量仪IF-EdgeMaster
可少的刃口测量工具。它的测量性能包括:全自动半径测量、角度测量、弧度测量、粗糙度测量、倒棱测量、附加测量模块。IF-EdgeMaster主要用于测量数控刀片、
/channels/nmn/20120921/1281697.html 0K 2012-09-21
吉时利推出三款源测量单元(SMU)仪器
三款最新的源测量单元(SMU)仪器,非常适合台式及研发应用,拓展了2600B系列数字源表产品系列,提高量产生产率,产品更具易用性。这是目前测试与测量行业中功能最
/channels/nmn/20120919/1278797.html 1K 2012-09-19
我国精密加工制造及测量技术接近世界水平
测到简单测量再到精密测量测量技术的进步一定程度上保障着制造技术的进步。着名科学家钱学森先生也曾指出:信息技术包括测量技术、计算机技术和通讯技术。测量技术是关
/channels/nmn/20120917/1275549.html 1K 2012-09-17
“数字化螺纹综合测量装置研制”项目获批
意义。“数字化螺纹综合测量装置的研制”项目针对国内螺纹检测技术滞后的现状,提出研制能够适用于螺纹综合参数检测的新仪器,对进一步完善螺纹测量能力,提高螺纹检测技术
/channels/nmn/20120913/1271789.html 0K 2012-09-13
“数字化螺纹综合测量装置研制”项目获批
意义。“数字化螺纹综合测量装置的研制”项目针对国内螺纹检测技术滞后的现状,提出研制能够适用于螺纹综合参数检测的新仪器,对进一步完善螺纹测量能力,提高螺纹检测技术
/channels/nmn/20120911/1268964.html 0K 2012-09-11
测量单分子质量的纳米秤近日问世
理吸附),其额外的质量促使振动梁以一种低频产生振动。因此如果想要测量分子的质量,研究人员只须测量频移便可。然而这里也有一个问题。这种频移同时还取决于分子在振动梁
/channels/nmn/20120907/1265431.html 0K 2012-09-07
激光测距传感器的多种测量使用方法
一被测量进行多次重复测量称为非等精度测量。4>静态测量与动态测量测量测量过程中认为是固定不变的,这种测量称为静态测量。静态测量不需要考虑时间因素对测量的影
/channels/nmn/20120904/1261286.html 1K 2012-09-04
世界首个能测量单个分子质量的机械装置问世
显示出其质量。新仪器基于能测量单个粒子质量的纳米机电系统(NEMS)共振器,但此前的设备并不能确定粒子的着陆点,因此科研人员需要测量大约500个相同粒子才能最
/channels/nmn/20120831/1257910.html 0K 2012-08-31
世界首个能测量单个分子质量的机械装置问世
显示出其质量。新仪器基于能测量单个粒子质量的纳米机电系统(NEMS)共振器,但此前的设备并不能确定粒子的着陆点,因此科研人员需要测量大约500个相同粒子才能最
/channels/nmn/20120831/1257829.html 0K 2012-08-31
首页上页345678910111213下页末页
©2024 CNCMRN