UL携手阿特拉斯举办Atlas/UL光伏耐久性亚洲会议

　　【中国能源网讯】伊利诺伊州，芝加哥，2010年9月15日— Atlas材料测试技术公司与UL很高兴宣布Atlas/UL光伏耐久性亚洲会议将于2010年12月7-8日在中国上海世纪皇冠假日酒店举行。本次会议将着重探讨有关光伏耐久性，诸如环境耐久性研究和创新发明、材料性能和使用寿命拓展、以及配件和光伏组件认证测试等领域的最新研究进展。此话题涉及到包括光伏组件制造商在内的整个光伏产业链。

　　在过去数年中，亚洲太阳能市场取得了巨大的增长。各种材料，如玻璃、塑料、聚合物、密封剂及金属材料等均被用于制造光伏组件、聚光盘以及其他将太阳能转换成热能或电能的系统。这些系统的使用寿命的预期一般为20, 30甚至是40年。因此，恰当的针对这些零部件以及整个系统的加速老化测试对于产品开发、质量控制以及检测和认证而言都至关重要。

　　此次会议发言人包括：

　　Sarah Kurtz博士

　　美国可再生能源实验室（National Renewable Energy Laboratory）

　　NRELMichael K.hl先生

　　德国弗琅霍夫太阳能系统研究所（Fraunhofer Institute for Solar Energy　Systems，ISE）

　　William Gambogi先生

　　美国杜邦光伏解决方案（DuPont Photovoltaic Solutions）

　　谷晓红博士

　　美国国家标准与技术研究院（National Institute of Standards & Technology，NIST）

　　Crystal Vanderpan博士

　　Underwriters Laboratories Inc.（UL）

　　Allen Zielnik先生

　　阿特拉斯材料测试技术公司（Atlas MTT LLC）

　　蒋李望先生

　　扬州杨杰电子技术有限公司

　　Werner Herrmann博士

　　德国TüV莱茵集团（TüV, Rhineland Group）

　　季良俊先生

　　Underwriters　Laboratories Inc.（UL）

　　冯炜先生

　　中国国网电力科学研究院

　　张志军博士

　　阿特拉斯材料测试技术公司（Atlas MTT LLC）

　　吴鸿森先生

　　台湾工业技术研究院

　　许炎山先生

　　美国TA仪器公司

　　Murray Cameron博士

　　欧洲光伏工业协会及菲尼克斯太阳能公司

　　（European Photovoltaic Industry Association，EPIA & Phoenix Solar AG）