NIST的混合计量方法可以提高计算机芯片

　　在美国国家标准与技术研究所（NIST）开发的一个改进后的方法，用于测量纳米大小的物体，可以帮助计算机制造商更有效地分布无数的微型，封装到芯片的表面。该方法，这使多个的使用和统计技术，已经提请注意从行业。
这微小的硅柱，测量沿其两侧小于100纳米，是那种计算机芯片的功能，制造商现在可以测量更精确NIST的混合计量方法，它可以减少了挥之不去的不确定性，已长期困扰行业的测量工作。
生活中没有什么是一定的，除了死亡和纳税，但在世界上的计算机芯片制造，不确定性是一个特别恼人的问题，尤其是当小于几十纳米测量功能。精密度和准确度控制一个复杂和昂贵的制造过程，以确保最终芯片的实际工作。但是，现代芯片的功能是如此的渺小，光学显微镜不能让他们直接。计量人员必须使用间接的方法，如 散射测量 的推断它们的形状采样图案光产生散射功能的边缘，因为它的。这是不够的，还有原子力显微镜（AFM）。它是昂贵的和缓慢的，但它可以给不同的光散射测量的纳米级物体的高度和宽度，而偶尔有无法区分它们。
然而，即使有这些测量技术，始终是一个挥之不去的误差幅度。 也许散射测量告诉你一个对象的宽度为40纳米，但它的加号或减号3纳米，一个比较大的差异，让事情变得更糟，通常总的不确定性增加时，测量技术相结合，使我们的视野。
NIST的团队需要的是一个更精确的测量坐落在一个芯片上还更便宜的方法，他们的回答竟然是扫描技术和统计分析相结合的。他们首先创建一个模拟数据库，典型的芯片特征尺寸的基础上，他们可以比较他们的实际测量，用原子力显微镜（AFM），散射测量等手段。图书馆的值是一个复杂的统计分析与实际测量值进行比较，提取有效的测量值，但是这往往是一个成本高的不确定性。
但是，NIST的统计学家发现一种优雅的方式在执行比较之前使用的统计方法，称为贝叶斯分析将几个关键额外的测量值从其他工具库模型。在这样做时，该球队是能够减少在某些测量中的不确定性，降低由以上的一个因素，在某些情况下，三个测量时，复杂的三维晶体管16纳米的尺寸或更小的在不久的将来，预期这种方法是必不可少的。